MPD 技术的 20 年发展

15 01月 2020

专注局部放电测试创新二十年

MPD 技术于 2006 年纳入 OMICRON 产品序列,当时这项技术已是市场上较为成熟的局部放电 (PD) 测量与分析解决方案。如今业内周知的创新性的 MPD 技术从 20 年前即已开发出来。我们走访了早期 MPD 开发人员 Caspar Steineke、Harald Emanuel 和 Burkhard Daniel,重溯 MPD 局放测试技术的发展历史。

业内首创技术

Caspar Steineke:“一切始于电力行业客户提出的各种要求,以那时在现场进行局放诊断的技术水平而言,这些要求尚不能满足。起初,我们应邀参加首个 400 kV XLPE 电力电缆系统的调试测试。 我们要做的是设法对长达几公里的电缆线路上的多个电缆接头执行同步局放测量。我们为此而开发了多通道同步局放测量解决方案,这项技术属业界首创,这就是 MPD 发展历史最初的起点。”

Harald Emanuel:“MPD 诞生的另一个推动是对核电站大型电机的局放测量。这些电机位于放射性区域,除了每三年一次的维护保养之外,该区域是禁止进入的。 用户希望我们能够拿出一种局放测量解决方案,校准只需要每三年进行一次,在这两次校准之间所进行的局放测量要具有高度的可重复性。我们据此而开发出了业内能够满足这种局放测量可靠性水平要求的第一套局放测量系统。”

客户反馈助力创新

Caspar Steineke:“早期客户群对我们的帮助很大,给了我们很多局放测量技术应用上的意见反馈,也给我们提出了许多他们所期待的功能要求。这些要求都在 MPD 540 中得到了实现,该型号局放测量设备是我们 2003 年正式推出的首款面向广大市场的 MPD 产品。 在此之后,我们一直坚持聆听客户在仪器使用过程中的体验,以及对于增加硬件与软件功能的诉求。这种反馈机制催生了第二代 MPD 技术,包括我们当前的 MPD 500 和 MPD 600 系统。”

众多创新功能

Burkhard Daniel:“以高度灵敏可靠的局放测试为目标,MPD 技术历经数年发展,推出多项创新功能,包括使用光纤连接硬件部件,以确保测试安全并减少与接线相关的测量干扰;现场局放数据录波,在办公室进行回放和后期分析;以及采用先进方法消除噪声环境下的测量干扰,实现高精度的局放分析等等。 这些功能是 MPD 技术的基础,也将继续使该项技术成为市场上领先的解决方案。我们将持续开发和完善 MPD 技术,使其适应越来越多的局放测量应用。”

请参阅有关 MPD 技术历史的信息图。

局放测试的重要性

绝缘缺陷是导致电气击穿与设备故障的主要原因。因此,在整个设备生命周期中对绝缘状态的检验至关重要。局部放电 (PD) 是电气设备中发展性绝缘缺陷的主要原因,也是一项非常可靠的判定指标。通过定期的局放测量,您可以检测和分析绝缘系统中的局放现象,进而评估故障风险,制定相应的检修计划,避免发生重大损坏或者绝缘击穿。

阅读更多内容

You are using an outdated browser version.
Please upgrade your browser or use another browser to view this page correctly.
×