OMICRON Academy Online
Webinar (Recorded)
德語
rWprs04de
Test Universe

Schutzprüfung mit dem OMICRON Test Universe – OCC, Quick CMC, Ramping and State Sequencer

OMICRON Academy Online
Webinar (Recorded)
德語
rWprs04de
Test Universe

主要特点

Sie wollen Ihre Schutzprüfung mit OMICRON verbessern? Erlernen Sie, eine automatisierte Prüfdatei anzulegen und den Prüfbericht entsprechen Ihren Vorgaben zu modifizieren. Verschaffen Sie sich einen Überblick über ausgewählte, leistungsstarke Prüfmodule und deren vielfältige Einsatzmöglichkeiten. Am Beispiel des Überstromzeitschutzes werden deren Funktionen exemplarisch dargestellt. 

学习目标

  • Erstellung eines individuellen und nach Kundenwünschen zugeschnittenen Prüfberichts
  • Vereinfachung des Prüfablaufs
  • Sicherheit bei der Bedienung von Prüfmodulen 
  •  

内容

  • Anlegung eines OCC-Dokuments zur Strukturierung des Prüfablaufs und zur Anpassung des Prüfberichts
  • Nutzung des QuickCMC – Moduls für eine unkomplizerte und direkte Ausgabe elektrischer Werte
  • Anwendung des Rampenmoduls zur Prüfung von Anregewerten
  • Bedienung des universell nutzbaren State Sequencer Moduls
  • Prüfung eines zweistufigen Überstromzeitschutzes als Anwendungsbeispiel mit den genannten Modulen 
  •  

时间

1:50 h

资料

Please use your official Email ID to register for this recorded webinar*.

*For the recorded webinar, we are using “Cisco Webex Events”. This is a Cisco Webex Meetings solution made available by Cisco Systems Inc. (San Jose, California, USA) to conduct our training sessions. For that purpose, your data submitted in the registration process needs to be forwarded to Cisco.

参加者

Dieses ist ein Anfängerkurs. Wenn Sie sich für Test Universe interessieren, werden Sie von der Teilnahme profitieren.

必备知识

Keine Vorkenntnis von Test Universe notwendig. Ein Grundverständnis zum Prüfen von Schutzrelais ist jedoch von Vorteil, um Ihren Lernerfolg zu maximieren.

产品

Test Universe

„所有的培训主题都很有意思并且培训师很好的进行了演示和说明。“

学生心声
应用知识
高效的培训方法
深入讨论
You are using an outdated browser version.
Please upgrade your browser or use another browser to view this page correctly.
×