仪用互感器上的介损因数/功率因数测量 (Tan Delta)

绝缘故障通常是仪用互感器故障的原因之一。 

可能导致绝缘材料加速老化的因素:

  • 密封不良导致水分渗入
  • 环境温度或太阳光导致的过热
  •  

老旧绝缘可能导致互感器的损耗过高,产生过多热量。由于互感器无法主动冷却,老旧或者劣化的绝缘材料可能会引发故障甚至发生爆炸。爆炸产生的碎片会给变电站的工作人员以及周边设备带来重大危害。

介损因数测量有助于确定绝缘状况。我们的测试系统还能够测量出不同频率下的介损因数,尽早发现绝缘老化迹象。这样就可以在互感器发生损坏前更换。

此方案的优点

其他方案

CPC 80 + CP TD12/15 + PTM:专用于仪用互感器的介损因数测试的测试系统

CPC 80 + CP TD12/CPC 80 + CP TD15 可以完成介损因数与电容的测量,是高压设备绝缘状态分析的理想测试系统。

该测试系统包含两个装置 – CPC 80 控制装置和 CP TD12 或 CP TD15 模块(其中包括高压源、标准电容器和测量电子元件)。系统能够分别生成最高 12 kV 和 15 kV 的输出电压以及最大 300 mA 的电流,并且达到实验室精度,即使在有强烈干扰的环境中也具有同样的测量精度。

其他方案

TANDO 700:电容和介损因数的高精度测试系统

便携式 TANDO 700 系统可进行高精度介损因数和电容测量,对各种电气设备进行高压实验室测试(如例行测试和型式测试)。

TANDO 700 还可以测量功率、电流、电压、阻抗和频率等其他参数。TANDO 700 可以实时显示所有测量数据和相关趋势,帮助您创建定制报告。

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