功率因数/均压电容测量 – AIS

功率因数或介损因数（也称损耗角正切值 (tan δ)）测量为验证断路器组件绝缘状况的完整性提供有效的方法。在验证落地罐式高压断路器套管的绝缘状况时，这项测量尤其有用。对于落地罐式高压断路器，这种测量方法用于通过检测电容层劣化情况来验证套管的绝缘状况。对于瓷柱式高压断路器，这种测量方法可用于估算均压电容器的电容。如果在工频频率之外的频率下进行测量，可以滤除并最大限度减少附近带电设备组件的干扰。在一定频率范围内进行测量可以更好地了解绝缘状况。