在局部放电测试领域创造历史 #94

在本期节目中，OMICRON局部放电（PD）测量与分析专家卡斯帕·施泰内克（Caspar Steineke）亲身讲述了OMICRON MPD技术过去20年的发展历程，以及该技术如何在全球范围内彻底改变了局部放电测试领域。

Caspar 描述了 MPD 技术如何在 20 年前应运而生，以满足行业对此前尚不存在的功能的需求，例如同步、多通道且高度稳定、具有重复性的局部放电测量，并具备数据记录功能，以确保可靠性。

Caspar 强调，与用户互动––仔细倾听他们的需求和应用要求––在 MPD 技术开发中发挥了至关重要的作用，并由此催生了许多开创性功能，使 PD 测量和分析在各种 PD 测试应用中变得更加简单、可靠性更高。

最后，卡斯帕展望了局部放电测试的未来，并阐述了 MPD 技术将如何持续演进以满足用户需求。

卡斯帕此前曾多次作为嘉宾做客《能源对话》节目，例如第72期关于“电气设备局部放电测试要义”的节目。